动态光散射纳米粒度/Zeta电位分析仪SZ-100

HORIBA SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析，zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A₂）的测定。
SZ-100的典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。

SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液，然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线，从而计算出Mw和A₂。

主要特点：

◆ 可测纳米粒子的三个重要要素——粒子直径、Zeta电位和分子量

◆ 超宽动态测定有效范围：0.3nm~8000nm（光子相关法）

◆ Zeta电位测定范围：-200~+200mV（电泳多普勒法）

◆ 分子量测定范围：1×10 3~2×10 7 Da（Debye Plot法）

◆ 从ppm到百分之几十的超宽样品浓度范围，在原液状态下取样测定。

◆ Horiba独特的微量电泳样品池，可以测定仅100μl 的Zeta电位

◆ 优秀的双光路系统设计(90°和173°双检测器）适用于更宽浓度范围的样品测量

◆ 独特的检测池清洁程度测定，保证了结果的准确性。

◆ 操作简单快捷，取样后仅需按测定开始按钮